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電子探針
 日 期:2014-12-13

 

 

 

儀器名稱:電子探針顯微分析儀(EPMA)
儀器型号: JXA8230
生産廠家:日本電子(JEOL)
工作原理:電子槍發射的電子束被聚光鏡聚集成直徑為納米級的細束,轟擊礦物表面,使被轟擊的元素激發出特征X射線,按其及強度對固體表面微區進行定性及定量化學分析。主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域,最小範圍直徑為1μm左右。絕對感量可達10-14至10-15g。
儀器配置:
1、配備4道波譜儀(WDS),八塊分光測試晶體(含兩塊分析輕元素晶體),元素測試範圍:5B92U。
2、配備陰極發光(CL)系統。非抛光型的檢測器(PCL)可用于礦物的篩選,如锆石陰極發光照相。
3、配備牛津科技INCAx-act350型能譜儀(EDS)。  
儀器特點: 
1、納米級的電子細束,實現了真正的微區(微米級)、無損分析。
2、高性能掃描電鏡(SEM)功能,保證了二次電子分辨率小于6nm。
3、WDS/EDS組合使用,豐富了分光譜儀種類,強大了分析功能。微區元素定量、定性分析及形貌觀察,元素分布的線掃描和面掃描,分析準确度高。設定位置、參數後,可實現自動、無人盯防分析。
應用範圍:地質學、岩石學、礦物學、材料學、冶金學、固體物理學、醫學、文物珠寶鑒定等。
 

地址:山東省濟南市山師東路14号   聯系電話:0531-66576066/67/68/69
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